Cp：过程能力，仅适用于统计稳定过程，是过程在受控状态下 的实际加工能力，不考虑过程的偏移，是过程固有变差（仅由于普通 原因产生的变差）的 6σ 范围，式中 σ 通常用 R-bar/d2 或者 s-bar/ c4 来估计。所以过程能力是用过程在受控状态下短期数据计算的。 因此又将过程能力称为“短期过程能力”，实际中常将短期省略。这个 指数只是针对双边公差而计算的，对于单边公差没有意义。

计算公式：Cp=(USL-LSL)/6σ

Cpk：过程能力指数，是在过程有偏移情况下的过程能力，前提是要过程稳定且数据是正态分布，而且数据应该在 25 组以上（建议最少不要低于 20 组，数据组越少风险越大），只考虑过程受普通原 因的影响。因为过程只受到普通原因变差影响是理想状态下的，从长 期来说过程总会受到各种特殊原因的影响，所以又被称为短期过程能 力，也叫潜在过程能力。Cpk 通过 CPU 或 CPL 的最小值来计算。

计算公式： CPU=(USL-X-bar)/3σ & CPL=(X-bar-LSL)/3σ

Pp：过程性能，是过程长期运行的实际加工能力，过程总变差（由 子组内和子组间二种变差所引起的变化，如果过程处于不受控状态， 过程总变差将包括特殊原因和普通原因）的 6σ 范围，式中 σ 通常用样本的标准差 s 来估计。此时不考虑过程是否受控。因此过程性能 也称长期过程能力，也叫性能指数。计算公式 Pp=(USL-LSL)/6s

Ppk：过程性能指数，因为计算不需要过程稳定（因为在计算公 式中已经考虑了普通和特殊两种原因的影响），所以在 PPAP 手册 中要求在产品进行试生产过程不稳定时（此时过程受两种原因影响） 用 Ppk 衡量过程能力，要求 Ppk>=1.67 才能进入量产阶段，所以又 把 Ppk 称为初期能力指数。Ppk 通过 PPU 或 PPL 的最小值来计算，

计算公式 PPU=(USL-X-bar)/3s 和 PPL=(X-bar-LSL)/3s

很多公司由于对过程能力的一知半解，往往只要求计算 Cpk 的 指数来衡量过程能力是否足够，事实上进入正常生产后应该通过 Cp\Cpk\Ppk 三个指数之间的差别来判断过程是否有问题，如果有问题 是管理上还是技术上有问题，当 Cp>1.33 表明过程变差比较小，此 时还要看 Cpk,当 Cp 和 Cpk 相差很大时表明过程有较大的偏移,需要 做居中处理，再比较 Cpk 和 Ppk，如果两者相差不大表明受特殊因 素的影响小，如果两者相差很大表明受特殊因素的影响很大，特殊因 素的影响往往比较容易找到。如果 Cp 值本身就很小那说明过程受普通因素的变差影响大，此时若想提升过程能力往往需要更多的投入和 更高的决策才能使问题得到解决。所以即使有时候 Cpk 值很高( 比如大于 2) ,如果其与 Cp\Ppk 相差较大的话还是需要对过程进行改 进。如果 Cpk 比 Ppk 大很多往往一种可能是过程并没有受控，控制 图上有异常点的出现，计算人员错用了结论。

Cm\Cmk：设备能力指数，单纯的用来衡量设备的能力情况，计算公式与 Cp\Cpk 相同，不同的是在进行样本采集时要求在稳定的过

程下固定除设备外的其他条件（在汽车行业应用较多）。