前言:
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AD芯片采集模拟信号涉及到AD芯片采集的精度和可靠性问题。在一些高精度信号采集的场合,我们不光是要会选择一款性能优良的AD芯片。同时要发挥AD芯片的性能,还必须充分考虑AD芯片的阻抗匹配问题。很多地方往往因为一个电阻和电容的使用导致AD的精度性能大大下降。
首先AD芯片为什么要进行阻抗匹配?下面主要从AD芯片的基本原理来介绍:下图是 Σ-Δ 型AD芯片的内部输入端的模型框图:
Σ-Δ 型AD芯片前级输入是一个电容C,通过S1的开关进行充电,S2开关进行电压的读取。因此,基于此原理,AD芯片转换电压进行量化是有时间要求的,通俗一点理解就是有一个RC充放电时间常数。这个RC时间就是AD芯片要求的阻抗匹配。当然有些AD芯片在输入前级还有一个缓冲输入级,由于缓冲输入级一般使用了一个跟随电路,其阻抗非常大可以不用考虑AD输入阻抗匹配的问题。
下面以AD7193芯片的实际使用过程中碰到的坑来说明。下图是一个关于AD7193 24位AD的信号输入电路。R31、C17组成一个阻抗匹配的输入电路。
我们通过查阅AD7193的数据手册,里面有关于不同采样速率的阻抗要求的表,如下:从表格里面可以看
出,当电阻为230欧的时候使用的电容为1000PF,而上面的原理图中使用的电阻和电容值为100欧、0.1uF,电容明显大于数据手册要求的值,很多开发者误区:认为电容C17电容越大,输入AD信号越稳定,实则不然,电容大了导致AD的精度大打折扣。
因此,在使用高精度AD的时候我们必须严格参考数据手册,对输入AD的信号进行阻抗匹配,才能保证AD的采集精度不打折扣。
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