感谢电堂，有幸参加了ST最新的G4系列MCU的测评。之所以会选择参加G4系列MCU的测评，是看中了G4系列优越的性能和较高的性价比，G4作为F3的升级系列，主频高达170MHz，内嵌了数学运算加速器，具有丰富的内置数模外设，运放、比较器、DA、AD等，硬件加密使用的是AES-256，带有双安全存储区域。

手头正好有电机控制方面的项目，准备选型一款合适的MCU，而G4系列典型应用之一正是电机控制，不巧的是收到开发板时订购的BLDC评估板一时半会还到不了手，临时改变评测项目，已经量产的工业仪器MCU替换为G474，看功能和性能方面是否可以达到或超越现有的MCU。

到手的Nucleo-G474开发板，先来张特写。

Nucleo-G474的板载烧写器MCU已经不是传统的STM32F103了，而是升级到了STM32F723，唯一遗憾的是烧写器和主板是一体的了，不是传统的间断连接方式，不能和主板分离，成为一个单独的烧写器。

为方便测试，且最大限度保护好Nucleo-G474原板，不直接在原板上焊接连线，特地打了1片专用测试板。这里要感谢下深圳某创PCB专业制造公司，速度快，还便宜，只要5块钱，且SF包邮（前提是尺寸不能超过10X10CM）。测试板上包括本次评测要用的外围电路，包括指示灯、RS232串口、DA、AD、CAN-FD，其中CAN-FD将放在后期测试。

首先测试传统的点灯，板载Led和自制Led交替点亮。用CubeMX配置好硬件资源，keil5编译程序，然后将程序下载到Nucleo-G474开发板，注意初次擦除烧写会报错，解决方法是从官网下载STSW-LINK007升级，就可以下载程序了。

程序运行效果如下所示：

接下来就是测试最主要的部分，手头已量产的产品是专用的传感器，MCU通过DA模块输出控制电压（电压大小需根据不同的环境可调），AD模块采集不同的被检测对象所对应的模拟量大小并转换成数字量，主控程序根据采集到的数字量大小，输出对应的控制。

CubeMX配置G474的资源如下图所示：

Main主程序：

int main(void){ /* USER CODE BEGIN 1 */   button_no = 0; /* USER CODE END 1 */  /* MCU Configuration--------------------------------------------------------*/ /* Reset of all peripherals, Initializes the Flash interface and the Systick. */ HAL_Init(); /* USER CODE BEGIN Init */ /* USER CODE END Init */ /* Configure the system clock */ SystemClock_Config(); /* USER CODE BEGIN SysInit */ /* USER CODE END SysInit */ /* Initialize all configured peripherals */ MX_GPIO_Init(); MX_TIM3_Init(); MX_UART4_Init(); MX_ADC2_Init(); MX_DAC2_Init(); /* USER CODE BEGIN 2 */ if (HAL_DAC_Start(&hdac2, DAC_CHANNEL_1) != HAL_OK) {   Error_Handler(); } if (HAL_DAC_SetValue(&hdac2, DAC_CHANNEL_1, DAC_ALIGN_12B_R, 1024) != HAL_OK) {   Error_Handler(); } if (HAL_ADC_Start(&hadc2) != HAL_OK) {   Error_Handler(); } AD_Sample = 0; AD_Sample = HAL_ADC_GetValue(&hadc2); __HAL_ADC_CLEAR_FLAG(&hadc2, ADC_FLAG_EOS); /* USER CODE END 2 */ /* Infinite loop */ /* USER CODE BEGIN WHILE */ while (1) {   /* USER CODE END WHILE */   /* USER CODE BEGIN 3 */   if (HAL_GPIO_ReadPin(B2_GPIO_Port, B2_Pin) == 0x01U)   {       button_no = 0x01U;   }   else      button_no = 0x00U;   HAL_GPIO_TogglePin(LD2_GPIO_Port, LD2_Pin);   HAL_GPIO_TogglePin(LD3_GPIO_Port, LD3_Pin); if (HAL_ADC_Start(&hadc2) != HAL_OK) {   Error_Handler(); }   HAL_Delay(50);   AD_Sample = 0;   if (HAL_ADC_PollForConversion(&hadc2, 10) == HAL_OK)   {     AD_Sample = HAL_ADC_GetValue(&hadc2);     sprintf(aTxBuffer,"AD value = %5d     ",AD_Sample);     if (HAL_UART_Transmit(&huart4, (uint8_t *)aTxBuffer, 26, 5000) != HAL_OK)     {       Error_Handler();     }     __HAL_ADC_CLEAR_FLAG(&hadc2, ADC_FLAG_EOS);     /* Insert delay 100 ms */ if (HAL_ADC_Stop(&hadc2) != HAL_OK) {   Error_Handler(); }     if (button_no == 0x00U)         HAL_Delay(2000);     else         HAL_Delay(100);   } } /* USER CODE END 3 */}

测试结果：

下图为传感器中没有被检测对象时采集到的数据：

检测较小物体时采集到的数据：

检测较大物体时采集到的数据：

以上所有检测数据为每秒采集一次，通过RS232串口传输到PC显示，该数据为AD模块的原始数据，分辨率12bit，未经任何算术平均以及数字滤波处理。从采集的结果看，AD模块的精度完全满足项目的需要。

由于时间不是很充裕，G474的很多优异性能尚未加以测试，尤其项目中要用的CAN总线，由于G4系列的CAN已升级为CAN-FD，手头尚没有对应的带CAN-FD的上位机进行测试，只能留待后期硬件条件具备时再做进一步测试。