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片式电容器开裂、短路的原因

电容宇宙 75

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片式电容具有片式电容,容易片式化等特点,是当今移动通信设备、计算机板卡以及家电遥控中使用最多的元件之一。

很多客户在使用片式电容器时都会遇到开裂、短路、烧损等现象,那么如何处理这些现象呢?我们需要知道这些现象产生的原因。


01片式电容器开裂的原因

1、开裂(指电容器开裂导致产品不能工作),这种现象通常是由电阻低引起的。原因是PCB在外力作用下开路。当非电容器受到外力冲击时,可能发生短路和低电阻。


2、如果施加的应力电压过高,MLCC电容器将失效。一般来说,它是短路和低电阻。当有足够的裕度(在电路设计中是非常重要的一个指标,主要用来衡量负反馈系统的稳定性,并能用来预测闭环系统阶跃响应的过冲),这种现象不宜过多,在这种情况下,一般需要检查产品在工作时是否需要振动或晃动,再检查产品容量是否符合要求。


02片式电容器短路烧损的原因 短路烧损(指PCB板中电容器损坏,导致产品无法继续工作),造成这种现象的原因有:电容器封装型号不够大、耐压太小、产品电流太大。 如果发生这种情况,我们需要更换芯片型号并检查具体原因。选择电容器耐压型号来代替片式电容器,如果找不到合适的型号来代替,可以解决片式电容器串并联的问题。



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