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IC测试座工作原理

KZT陶 67

前言:

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ic测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下验证IC是否能完成设计所预期的工作或功能。将合格的芯片与不合格的芯片区分开,保证产品的质量与可靠性。

IC测试用于验证IC是否能完成设计所预期的工作或功能。功能测试是数字电路测试的根本,它模拟IC的实际工作状态,输入一系列有序或随机组合的测试图形,以电路规定的速率作用于被测器件,再在电路输出端检测输出信号是否与预期图形数据相符,以此判别电路功能是否正常。其关注的重点是图形产生的速率、边沿定时控制、输入/输出控制及屏蔽选择等。

凯智通IC测试座的优势:

测试座探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠而不会损坏锡球。高精度的定位槽或导向孔,保证IC定位精确,生产效率高,探针可以更换,维修方便,成本低。

IC测试座采用手动翻盖式结构和自动下压式结构,操作方便;翻盖的上盖的IC压板采用弹压式结构,能自动调节下压力,保证IC的压力均匀。

交期快,最快一天交货,提高使用效率。

产品简介:

A、 产品用途:编程座、测试座,对DFN6的IC芯片进行烧写、测试;

B、适用封装:WSON\QFN\DFN6 引脚间距0.65mm;

C、测试座:WSON\QFN\DFN6(2*2)-0.65;

D、特点:采用U型顶针,接触稳定,性能更稳定;

E、座子外壳采用特殊的工程塑胶,强度高、寿命长(翻盖结构20000次)

F、我司可提供规格书(布板图)资料,PDF档\CAD;

标签: #模拟定位软件的工作原理 #数字ic设计入门 pdf